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Kosaka 6寸台阶仪 ET200A
产品概要:
二维/三维表面粗度解析及台阶测定,可实现高精度、高辨识能力及优越的安全性。
基本信息:
极佳重复性与线性度
采用直动式检测方式,可避免圆弧补正误差,可避免Bearing间隙误差;台阶测定重复性:1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm;Z方向线性度为±0.25% (样品厚度> 2000A);5A (样品厚度≤2000A)。
高分辨率
纵轴分辨率高至0.1nm,横轴分辨率高至0.1um,X测定速度可调:5μm~2mm/s。
低测定力
测定力在 10 ~ 500uN、 1~50mgf 可任意设定,可测定软质材料面,如︰COLOR FILTER、SPACER、PI…等
真直度保证-1
技术优势:
1、设备主体花岗岩,低热膨胀,低重心,自隔震
2、独特的直动式传感器设计
3、Z方向分辨率0.1m;重复性1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm
4、Z方向线性度为±0.25% (样品厚度> 2000A);5A (样品厚度≤2000A)
5、样品台的垂直直线度保证:局部0.005um/5mm、全量程0.2um/100mm
6、高精度的X方向位移光栅尺控制,X方向测量长度大至100mm,Y方向移动大至150mm
7、选配三维测量功能
应用方向:
主要用于平板显示器、硅片、硬盘等的微细形状台阶/粗度测定,另外也可利用微小测定力来对应软质样品表面测定。